1、熱電阻類(lèi)型對(duì)照表
2、熱電阻精度等級(jí)對(duì)照表
3、檢測(cè)設(shè)備之間的差異
4、檢定方法之間的差異
從以上的比較可看出：
1、JJG229-2010中使用中的被檢熱電阻種類(lèi)增加了Pt500和Pt1000。
2、JJG229-2010中被檢熱電阻的精度等級(jí)擴(kuò)展。
3、JJG229-2010中電測(cè)量設(shè)備精度等級(jí)提高；對(duì)標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)和被檢熱電阻的測(cè)量處于同一量程擋位，且始終保持0.1mΩ或0.1μV狀態(tài)；引入的測(cè)量電流必須小，引起溫升盡可能小，不會(huì)對(duì)不確定度評(píng)定產(chǎn)生影響。
4、JJG229-2010中恒溫槽的溫度范圍擴(kuò)展到-50～300℃。
5、JJG229-2010中改變了檢定方法，其目的是消除恒溫槽的溫度隨時(shí)間的改變而產(chǎn)生對(duì)測(cè)量的影響。
6、采用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量熱電阻時(shí)，在測(cè)量過(guò)程中必須改變電流測(cè)量方向，以消除熱電勢(shì)的影響。
按照J(rèn)JG229-2010檢定規(guī)程要求，目前國(guó)內(nèi)所有按照J(rèn)JG229-1998檢定規(guī)程配置的溫度自動(dòng)檢定系統(tǒng)必須更換或升級(jí)，否則溫度檢定系統(tǒng)無(wú)法建標(biāo)。
按照J(rèn)JG229-1998檢定規(guī)程配置的溫度自動(dòng)檢定系統(tǒng)均采用六位半數(shù)字萬(wàn)用表(有條件的用戶可能采用高精度電橋)進(jìn)行測(cè)量，六位半數(shù)字萬(wàn)用表國(guó)外較知名的有惠普公司HP3340和吉時(shí)利公司K2000，但這類(lèi)萬(wàn)用表仍有其局限性：HP3340和K2000直流電壓檔最低量程為100mV，分辨率為0.1μV，當(dāng)測(cè)量數(shù)據(jù)大于100mV時(shí)，萬(wàn)用表自動(dòng)調(diào)檔到1V，此時(shí)的分辨率為1μV；HP3340和K2000電阻檔最低量程為100Ω，分辨率為0.1Ω，當(dāng)測(cè)量數(shù)據(jù)大于100Ω時(shí)，萬(wàn)用表自動(dòng)調(diào)檔到1kΩ，此時(shí)的分辨率為1mΩ。當(dāng)測(cè)量值大于萬(wàn)用表直流電壓檔或電阻檔最低量程時(shí)，電測(cè)設(shè)備的分辨率已不能滿足JJG229-2010檢定規(guī)程的要求。
采用電阻測(cè)量的方式，六位半數(shù)字萬(wàn)用表用于0℃檢定熱電阻Cu50、Cu100、Pt10、Pt100(標(biāo)稱(chēng)電阻必須≤100Ω)時(shí)，能滿足JJG229-2010檢定規(guī)程的要求；但在100℃檢定熱電阻時(shí)，被檢電阻的電阻值均大于100Ω，六位半數(shù)字萬(wàn)用表自動(dòng)切換到1kΩ檔，此時(shí)分辨率1mΩ已不滿足JJG229-2010檢定規(guī)程的要求；同時(shí)測(cè)量中引入了因萬(wàn)用表切換量程所產(chǎn)生的不確定性，被測(cè)熱電阻也會(huì)產(chǎn)生附加誤差，不符合JJG229-2010檢定規(guī)程要求在同一量程下測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻和被檢熱電阻的要求。
此外，JJG229-2010規(guī)定“為削弱熱電勢(shì)的影響，用數(shù)字多用表測(cè)量電阻時(shí)應(yīng)采取電流換向”，若采用測(cè)電阻的方式，六位半數(shù)字萬(wàn)用表無(wú)法進(jìn)行電流換向，測(cè)量中直接引入雜散電勢(shì)產(chǎn)生的不確定性。
綜上所述：在檢定熱電阻時(shí)，不能使用六位半數(shù)字萬(wàn)用表電阻檔進(jìn)行測(cè)量，不符合JJG229-2010檢定規(guī)程要求；在檢定熱電阻時(shí)，可以使用六位半數(shù)字萬(wàn)用表直流電壓檔且最低量程100mV以測(cè)量電壓方式進(jìn)行測(cè)量，能夠同時(shí)滿足JJG229-2010檢定規(guī)程中同一量程下測(cè)量和電流換向的要求。
